本產(chǎn)品為IGBT、SiC等功率半導(dǎo)體器件提供全套功率測試解決方案，可高效實現(xiàn)從晶圓級到最終產(chǎn)品的ISO、DC、AC等全套測試，實現(xiàn)全自動化測試過程，并配置豐富的測試接口和功能模塊選擇，滿足不同器件測試對測試機(jī)的要求。
AC測試：1500V/4000A，DC測試：2000V/2000A
接觸可靠性測試、ISO測試、DC測試、AC測試等
SiC/IGBT 晶圓、芯片、單管、模塊，針對不同封裝定制測試治具
全自動化測試過程，自動生成數(shù)據(jù)報表
<15nH，不含待測對象及socket
過流保護(hù)閾值可設(shè)置，保護(hù)時間<2us
UPH>200，具體依據(jù)實際測試對象及測試項目確定
可根據(jù)具體要求對測試功能模塊進(jìn)行選擇和測試流程變更
可根據(jù)不同測試要求選擇各功能并行或者異步模式運行
供電電源電壓220V±10%(單相+PE)，50Hz±10%，10kW
測試對象SiC/IGBT 晶圓、芯片、單管、模塊
測試項Kelvin，ISO，SW，SC，Qg，DC，RgCg ，UIS等
AC測試最大電壓電流1500V，多脈沖 4000A，短路12000A@10us
DC測試最大電壓電流2000V，2000A
UIS測試最大電壓電流3000V，200A
RgCg測試電壓Vds：1500Vmax，Vgs ：±40V
AC測試雜感＜15nH，不包含被測器件及socket
AC測試過流保護(hù)＜2us
測試效率UPH>200，具體依據(jù)實際測試對象及測試項目確定
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